Л 890 Яремчук, І. Я. Модель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркала [Текст] / І. Я. Яремчук, В. М. Фітьо, Я. В. Бобицький // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2009. - № 646: Електроніка. - С. 218-224. - Бібліогр. в кінці ст.
Фізика--Оптика--Інтерференція Дод.точки доступу: Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В. Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71770 - Б.ц. (вільний) |
Ч 492 Муарові зображення дефектів у рентгенівській трикристальній інтерферометрії [Текст] / І. М. Фодчук [и др.] // Науковий вісник Чернівецького університету : зб. наук. пр. - Чернівці : Рута, 2000. - Вип. 92: Фізика. Електроніка. - С. 14-19. - Бібліогр. в кінці ст.
Фізика--Фізична природа матерії--Молекулярні системи--Виявлення властивостей за допомогою Х-променів Дод.точки доступу: Фодчук, І. М. (Викладач ЧНУ); Раранський, М. Д. (Викладач ЧНУ); Струк, Я. М.; Фесів, І. В.; Регульський, В. Є.; чернівецький автор, але не про Чернівці (Чернівецьку область) Є примірники у відділах: 2 Інв.В 72085 - Б.ц. (вільний) |
К 388 Рефрактометр на базі інтерферометра Жамена [Текст] / І. Захарченко, В. Кошеленко, О. Крилов [та ін.] // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія: Фізика. - К. : КНУ ім. Тараса Шевченка, 2012. - Вип. 14/15. - С. 12-16. - Бібліогр. в кінці ст.
Точна механіка--Оптичні прилади--Інтерферометри Дод.точки доступу: Захарченко, І.; Кошеленко, В.; Крилов, О. Є примірники у відділах: 1 Інв.В 74312 - Б.ц. (вільний) |
Л 890 Кособуцький, П. Подавлення імпедансного контрасту у плоско-параленьних шарах просвітлення [Text] / П. Кособуцький, М. Маркуловська // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехника", 2015. - № 828: Комп'ютерні системи проектування. Теорія і практика. - С. 3-10. - текст ст. англ. мов. - Бібліогр. в кінці ст.
Точна механіка--Оптичні прилади Метрологія--Вимірювання технологічних параметрів Фізика--Фізична природа матерії--Молекулярні системи--Плівки Дод.точки доступу: Маркуловська, М. Є примірники у відділах: 1 Інв.В 75484 - Б.ц. (вільний) |
Е 502 Белюх, В. Застосування комбінованої оптичної методики для дослідження тонких плівок нітриду кремнію на поверхні монокристалічного кремнію [Текст] / В. Белюх, Б. Павлик // Електроніка та інформаційні технології. - Львів : ЛНУ ім. Івана Франка, 2020. - Вип. 13. - С. 137-149 : табл., рис. - Бібліогр. в кінці ст.
Фізика--Оптика--Інтерференція Фізика конденсованої матерії--Спеціальна геометрія і взаємодія з частинками та випромінюванням--Фізика тонких плівок, нитковидних кристалів та дендритів Кл.слова (ненормовані): тонкі діелектричні плівки -- еліпсометрія Дод.точки доступу: Павлик, Б. Є примірники у відділах: 1 (20.10.2023р. Інв.Б 576123 - Б.ц.) (вільний) |
О-627 Маслов, В. П. Дослідження кутових та поляризаційних характеристик теплового випромінювання одномірних фотонних структур на скінченній підкладинці [Текст] / В. П. Маслов, В. О. Мороженко, Н. В. Качур // Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка : зб. наук. пр. - Київ : Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова, 2021. - Вип. 56. - С. 83-88 : рис. - Бібліогр. в кінці ст.
Фізика--Оптика--Теорія світла Дод.точки доступу: Мороженко, В. О.; Качур, Н. В. Є примірники у відділах: 1 (05.12.2023р. Інв.В 77408 - Б.ц.) (вільний) |