061
Л 890


    Гоц, Н. Є.
    Дослідження впливу шуму приймача випромінення на точність вимірювання температури за випроміненням багатоспектральними методами [Текст] / Н. Є. Гоц, Т. Пянтковскі // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2010. - № 686: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 290-296. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Фізика--Оптика--Оптична термометрія
   Метрологія--Аналіз похибок



Дод.точки доступу:
Пянтковскі, Т.
Є примірники у відділах:
1 Інв.В 72233 - Б.ц. (вільний)


061
Л 890


    Гоц, Н.
    Аналіз похибок вимірювання температури методами двоканальної термометрії випромінення [Текст] / Н. Гоц // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львів. політехника, 2010. - № 688: Комп'ютерні системи та мережі. - С. 83-89. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Фізика--Оптика--Оптична термометрія
   Метрологія--Вимірювання фізичних та хімічних параметрів


Є примірники у відділах:
1 Інв.В 72613 - Б.ц. (вільний)


061
Л 890


    Гоц, Н.
    Моделювання похибок вимірювання температури методами двоканальної термометрії випромінення [Текст] / Н. Гоц // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2011. - № 694: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 205-211. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Метрологія--Вимірювання фізичних та хімічних параметрів
   Фізика--Оптика--Оптична термометрія


Є примірники у відділах:
1 Інв.В 72747 - Б.ц. (вільний)


061
Л 890


    Гоц, Н.
    Моделювання похибок вимірювання температури за випроміненням багатоканальними методами [Текст] / Н. Гоц // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2011. - № 710: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 107-112. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Метрологія--Аналіз похибок
   Математика--Математична кібернетика--Теорія керуючих систем--Моделі, побудова моделей

   Фізика--Оптика--Оптична термометрія


Є примірники у відділах:
1 Інв.В 73149 (вільний)


061
Л 890


    Гоц, Н.
    Моделювання оцінювання якості продукції та послуг методом нечіткої логіки [Текст] / Н. Гоц, В. Мельник // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2011. - № 719: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 118-125. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Математика--Дослідження операцій--Теорія корисності та прийняття рішень
   Метрологія--Кваліметрія



Дод.точки доступу:
Мельник, В.
Є примірники у відділах:
1 Інв.В 73486 (вільний)


061
Л 890


    Петриченко, Г.
    Спосіб безконтактного вимірювання температури за випроміненням розплаву металу в процесі електрошлакового переплавлення [Текст] / Г. Петриченко, Н. Гоц // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2012. - № 732: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 8-14. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Фізика--Термодинаміка
   Фізика--Оптика--Оптична термометрія



Дод.точки доступу:
Гоц, Н.
Є примірники у відділах:
1 Інв.В 73652 (вільний)


061
Л 890


    Гоц, Н.
    Моделювання методик реалізації температурної шкали багатоточковим методом для термометрів випромінення [Текст] / Н. Гоц // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехника", 2012. - № 744: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 192-197. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Фізика--Термодинаміка
   Фізика--Оптика--Оптична термометрія


Є примірники у відділах:
1 Інв.В 74052 (вільний)


061
Л 890


   
    Комбінований метод корекції неленійності дводіапазонних АЦП [Текст] / Р. В. Кочан, О. В. Кочан, Г. І. Клим, Н. Є. Гоц // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехника", 2014. - № 802: Автоматика, вимірювання та керування. - С. 50-54. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Комп'ютерна наука та технологія--Комп'ютерна архітектура--Функціональні перетворювачі
   Електроніка та радіотехніка--Мікроелектроніка

   Метрологія--Вимірювання технологічних параметрів--Повірка вимірювальної апаратури



Дод.точки доступу:
Кочан, Р. В.; Кочан, О. В.; Клим, Г. І.; Гоц, Н. Є.
Є примірники у відділах:
1 Інв.В 74994 - Б.ц. (вільний)