Відпал кластерів дефектів у зразках Si та Si (Ge), вирощених методом Чохральського [Текст] : научно-популярная литература / М.Д. Варенцов, Г.П. Гайдар, О.П. Долголенко, П.Г. Литовченко // Український фізичний журнал. - 2007. - Т. 52, № 4. - С. 372-377. - Бібліогр.: 20 назв. Рубрики: Кремній-дослідження--Кластери дефектів--відпал дефектів Кл.слова (ненормовані): опромінення -- "критична температура" -- ізотермічний відпал -- радіаційний відпал Дод.точки доступу: Варенцов, М.Д.; Гайдар, Г.П.; Долголенко, О.П.; Литовченко , П.Г.