Пошуковий запит: <.>K=Метрологія<.> |
Загальна кількість знайдених документів : 502
Показані документи с 1 за 10 |
|
>1.
| 4 Т 436
Повторуха, Н. В. Металогічна лексика зі значенням приблизної кількості в німецькій мові [Текст] / Н. В. Повторуха> // Типологія мовних значень у діахронічному та зіставному аспектах : зб. наук. пр. - Донецьк, 2009. - Вип. 20. - С. 109-117. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Німецька мова Лексико-семантичні особливості--Метрологічна лексика Кл.слова (ненормовані): Метрологія -- Приблизна кількість -- Вторинна номінація -- Метронімічний перенос -- Параметри виміру
Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71782 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>2.
| 061 Л 890
Сахарук, О. Неруйнівний контроль та оцінка поперечних деформацій методом оптичної спекл-кореляції [Текст] / О. Сахарук> // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехника", 2004. - № 521: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 210-214. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Оптоелектроніка Метрологія--Вимірювання фізичних та хімічних параметрів--Неруйнівний контроль Кл.слова (ненормовані): Спекл-метрологія
Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71705 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>3.
| 061 Л 890
Водотовка, В. Інформаційне забезпечення мікрохвильових технологій: стуктурно-алгоритмічний синтез інваріантного термобалансного вимірювача швидкості потоку рідини [Текст] / В. Водотовка, Г. Юрчик> // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехника", 2005. - № 543: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 195-203. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Метрологія--Вимірювання фізичних та хімічних параметрів Електроніка та радіотехніка--Мікроелектроніка
Дод.точки доступу: Юрчик, Г. Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71706 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>4.
| 061 Л 890
Микитин, І. Математичні моделі методичної похибки одноканальних та двоканальних шумових термометрів [Текст] / І. Микитин> // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львів. політехника, 2008. - № 616: Комп'ютерні науки та інформаційні технології. - С. 90-97. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Електрика, електротехніка--Деталі електричних машин--Конструювання електричного кола Метрологія--Аналіз похибок
Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71673 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>5.
| 061 Ч 492
Вимірювання інтегральної чутливості фотоприймачів [Текст] / В. К. Бутенко [и др.]> // Науковий вісник Чернівецького університету : зб. наук. пр. - Чернівці : Рута, 2008. - Вип. 420: Фізика. Електроніка. - С. 104-109. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Електроніка та радіотехніка--Джерела та приймачі випромінювання--Фотоприймачі Метрологія--Вимірювання технологічних параметрів
Дод.точки доступу: Бутенко, В. К.; Докторович, І. В.; Годованюк, В. М.; Юр'єв, В. Г.; Житарюк, В. Г. (Викладач ЧНУ); чернівецький автор, але не про Чернівці (Чернівецьку область) Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71339 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>6.
| 061 Ч 492
Кочан, О. Аналіз похибки вимірювання температури термоелектричним перетворювачем з керованим профілем температурного поля [Текст] / О. Кочан> // Науковий вісник Чернівецького університету : зб. наук. пр. - Чернівці : Рута, 2008. - Вип. 423: Фізика. Електроніка = Темат. вип. "Комп'ютерні системи та компоненти", Ч. 1. - С. 124-129. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Фізика--Термоелектрика Метрологія--Аналіз похибок
Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71241 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>7.
| 061 Л 890
Болтовець, П. Інтелектуальна система контролю якості зерна: перспективи і шляхи застосування [Текст] / П. Болтовець, Ю. Шварц, Б. Снопок> // Вісник Львівського університету. Серія фізична. - Львів : ЛНУ ім. І. Франка, 2009. - Вип. 44. - С. 172-177. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Метрологія--Вимірювання фізичних та хімічних параметрів
Дод.точки доступу: Шварц, Ю.; Снопок, Б. Є примірники у відділах: 1 Інв.Б 522478 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>8.
| 061 Н 350
Кириченко, О. В. Оцінка метрологічних характеристик результатів визначення нафтопродукті у воді метдом екстракційної фнфрачервоної фотометрії [Текст] / О. В. Кириченко, М. С. Мальований> // Науковий вісник Національного лісотехнічного університету України : зб. наук.-техн. пр. - Львів : НЛТУ, 2009. - Вип. 19.12. - С. 324-329. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Метрологія--Вимірювання фізичних та хімічних параметрів Хімія--Аналітична хімія--Аналіз води Екологія--Забруднення вод--Дослідження
Дод.точки доступу: Мальований, М. С. Є примірники у відділах: 1 Інв.А 414723 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>9.
| 061 Л 890
Структурно-алгоритмічний метод корекції похибок програмно-керованих калібраторів електричних величин [Текст] / М. М. Микийчук [и др.]> // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львів. політехника, 2009. - № 658: Комп'ютерні системи та мережі. - С. 92-94. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Комп'ютерна наука та технологія--Якість систем і програмного забезпечення Метрологія--Аналіз похибок
Дод.точки доступу: Микийчук, М. М.; Столярчук, П. Г.; Яцук, В. О.; Коваленко, Ю. С. Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71772 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
>10.
| 061 Л 890
Бучма, І. М. Оцінка електричних параметрів заступної схеми пластини з феромагнітними властивостями при вихрострумових дослідженнях [Текст] / І. М. Бучма, Т. М. Репетило> // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". - Львів : Львів. політехника, 2009. - № 639: Автоматика, вимірювання та керування. - С. 31-37. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Електричні вимірювання--Метод вихрових струмів Метрологія--Вимірювання технологічних параметрів
Дод.точки доступу: Репетило, Т. М. Є примірники у відділах: 1 Інв.В 71712 - Б.ц. (вільний)
Знайти схожі
|
|
|